Nanomalzemeler Araştırma Laboratuvarı - 2

Genel Bilgi
Malzemelerin kristal yapılarını ve kristal yapı özelliklerini tayin etmek için kurulmuştur. Bir X-ışını difraktometresinde, X-ışını kaynağından çıkan ışınlar numune üzerine düşürülür ve numuneden yansıyan ışınlar detektör ile toplanır. 3 boyutlu, ince film ve toz numunelerin kristal yapı özellikleri araştırılır. Ölçümler sonucunda faz türleri, kafes türü, düzlemler arası uzaklık değerleri, örgü sabiti gibi özellikler tayin edilir.

Ekibimiz
 
Araştırma Konuları
  • Katıhal fiziği
  • Kristal Yapı
  • X-ışını difraksiyonu

Laboratuvar Ekipmanları
  • Bruker AXS/Discover D8 X-ışını difraktometresi (XRD)*
  • Binder Tavlama Fırını*
  • Multi-parameter M310F İletkenlik Ölçer
 
Desteklenen Projeler
  • 2024 - Devam Ediyor (Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje)
  • İki Boyutlu Grafen ve Metal Kalkojen Tabanlı Mikro-Nano Sistemlerin Geliştirilmesi ve Uygulamaları
    • Doç. Dr. Umut  Aydemir 
  • 2023 - Devam Ediyor (Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje)
    • ALPER M. (Yürütücü), VATANSEVER D., KUŞ E., BOZDOĞAN E., ORHAN İ., ŞAFAK HACIİSMAİLOĞLU M., et al.
  • 2004 - 2025 (TÜBİTAK Uluslararası İkili İşbirliği Projesi)
  • Electrodeposition of Nanostructured Materials and Their Magnetic and Magnetotransport Characterisation
    • Doç. Dr. Mürşide Hacıismailoğlu

Tezler

Yayınlar

 
 
Laboratuvardan Kareler




 



Bilgi

Okunma Sayısı: 23
Eklenme Tarihi: 8.03.2025 19:10:07
Güncelleme Tarihi: 25.03.2025 17:51:46

Paylaş