Genel Bilgi
Malzemelerin kristal yapılarını ve kristal yapı özelliklerini tayin etmek için kurulmuştur. Bir X-ışını difraktometresinde, X-ışını kaynağından çıkan ışınlar numune üzerine düşürülür ve numuneden yansıyan ışınlar detektör ile toplanır. 3 boyutlu, ince film ve toz numunelerin kristal yapı özellikleri araştırılır. Ölçümler sonucunda faz türleri, kafes türü, düzlemler arası uzaklık değerleri, örgü sabiti gibi özellikler tayin edilir.
Ekibimiz
Araştırma Konuları
-
Katıhal fiziği
-
Kristal Yapı
-
X-ışını difraksiyonu
Laboratuvar Ekipmanları
Desteklenen Projeler
-
2024 - Devam Ediyor (Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje)
-
İki Boyutlu Grafen ve Metal Kalkojen Tabanlı Mikro-Nano Sistemlerin Geliştirilmesi ve Uygulamaları
-
2023 - Devam Ediyor (Yükseköğretim Kurumları Destekli Proje)
-
-
ALPER M. (Yürütücü), VATANSEVER D., KUŞ E., BOZDOĞAN E., ORHAN İ., ŞAFAK HACIİSMAİLOĞLU M., et al.
-
2004 - 2025 (TÜBİTAK Uluslararası İkili İşbirliği Projesi)
-
Electrodeposition of Nanostructured Materials and Their Magnetic and Magnetotransport Characterisation
Tezler
Yayınlar
Laboratuvardan Kareler